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首页>产品中心>Agilent>原子光谱>5800ICP-OESAgilent 电感耦合等离子体发射原子光谱仪

Agilent 电感耦合等离子体发射原子光谱仪

Agilent 电感耦合等离子体发射原子光谱仪
Agilent 5800 ICP-OES 是一款专为业务繁忙的实验室而设计的 ICP-OES 仪器,旨在帮助实验室节约浪费的时间。这款智能 ICP 采用包含内置传感器、算法和诊断功能的智能化监控体系,可以在故障发生之前发现问题,从而大程度延长正常运行时间并大程度减少需要重新测定的样品数量。

产品型号:5800ICP-OES

更新时间:2021-12-30

Agilent 电感耦合等离子体发射原子光谱仪

电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES)

5800 ICP-OES

Agilent 5800 ICP-OES 是一款专为业务繁忙的实验室而设计的 ICP-OES 仪器,旨在帮助实验室节约浪费的时间。这款智能 ICP 采用包含内置传感器、算法和诊断功能的智能化监控体系,可以在故障发生之前发现问题,从而大程度延长正常运行时间并大程度减少需要重新测定的样品数量。

任何其他电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES) 均无法让您对样品和仪器状态有如此深入的了解,因此 5800 ICP-OES 结合强大的 ICP Expert 软件可助您始终在第一时间获得准确结果。

特性:

1. 使用安捷伦的 IntelliQuant 功能,了解有关样品的更多信息。IntelliQuant 能够采集整个波长范围内的数据,识别光谱干扰并为您提供建议,确保您始终获得准确结果。

2. 通过传感器和计数器进行智能仪器状态追踪,并在系统需要维护时为用户提供指导,助您有效缩短停机时间、降低维护成本

3. Neb Alert 功能可持续监测雾化器,并在雾化器需要清洁或发生泄漏时提醒您,从而避免时间浪费和故障排除成本

4. ICP Expert 包括数据分析和智能算法功能,使方法开发更有据可依,并能实现自动化故障排除,这些算法包括拟合背景校正 (FBC)、快速自动曲线拟合技术 (FACT)、元素间干扰校正 (IEC) 和 IntelliQuant

5. 采用垂直炬管设计,能够降低清洁频率、缩短停机时间并减少炬管更换次数

6. 5800 是市面上体积小的 ICP-OES 仪器,不仅可以节省宝贵的工作台空间,还可以降低使用维护成本。紧凑的光路布局能够实现快速吹扫,从而减少样品的测量等待时间。

应用:

(Li) 离子电池的元素分析

近年来,由于对便携式电池的需求增加以及蓬勃发展的电动汽车 (EV) 市场对电池的大量需求,锂离子电池行业的产品需求增长迅速。

了解原材料和产品组件的元素组成对于确保产品质量和安全性至关重要,但这类样品可能非常复杂。5800 ICP-OES 可以轻松克服这些样品带来的挑战,请查看安捷伦锂离子电池信息页面,了解具体方法。

石墨阳极中的杂质

石墨阳极材料中存在的杂质含量会影响其稳定性,因此分析阳极中的痕量杂质元素至关重要。

 

了解如何使用安捷伦 ICP-OES 准确地同时监测 18 种杂质元素,以确保您准确了解石墨阳极的稳定性。

锂电池阴极中的杂质

了解阴极材料的元素浓度非常重要,因为元素组成会影响能量密度。阅读本应用简报的更多信息,了解如何使用安捷伦 ICP-OES 克服分析高浓度锂样品的挑战,同时仍确保获取各种杂质分析物的准确结果。

原料元素组成测定

是用于生产阴极的原材料。了解其成分十分重要,因为污染物水平升高会影响电池性能。

了解如何使用安捷伦 ICP-OES 准确高效地分析此类含高浓度 EIEs 的样品,同时不影响方法中的其他杂质分析物。

电池电解液中的杂质

六氟磷酸锂电解液的元素组成会对电池的运行、性能和安全产生影响。

详细了解安捷伦 ICP-OES 如何帮助您在复杂基质下获得准确结果。

电感耦合等离子体质谱

Agilent 电感耦合等离子体发射原子光谱仪

7850 ICP-MS

使用 Agilent 7850 ICP-MS 避免 ICP-MS 分析中常见的时间陷阱。这一智能方法可减少时间浪费,让忙碌的工作人员可以专注于更有价值的任务。7850 ICP-MS 仪器可以处理固体含量高达 25% 的样品,从而减少费时的稀释步骤。这款仪器具有氦模式碰撞池和半质量校正功能,可避免多原子和双电荷离子干扰,使方法开发更简单,并解决了导致费时的样品重新测量的常见问题。

了解 Agilent 7850 ICP-MS 仪器如何提高实验室效率,助您夺回在 ICP-MS 分析中浪费的时间。

特性

标准操作规程以及用于法规和常规分析的全面开发的方法,可为您节省数周的方法开发和文档编制时间。

超高基质进样系统 (UHMI) 可在不稀释的情况下直接分析总溶解态固体含量高达 25% 的样品,从而减少样品前处理时间。

氦气碰撞池和半质量校正可消除棘手的多原子和双电荷离子干扰,避免降低数据质量,同时可减少高成本的样品重新测量需求。

无需基质匹配的校准标样即可测定高基质样品。还可以添加盐酸以稳定 Hg、Ag、Mo 等重要元素,而不会引入新的干扰。

使用 IntelliQuant 可识别异常的样品基质,并获得每个样品的完整元素谱。包括元素周期表热力图在内的多种显示模式可帮助您轻松识别浓度异常的常量元素或未知元素。

异常值条件格式 (OCF) 可突出显示超出范围或不满足测试要求的结果,从而减少工作繁忙或经验不足的 ICP-MS 操作人员审查数据的时间。可以根据不同需求配置提醒信息。

早期维护反馈 (EMF) 功能采用传感器和计数器确定系统何时需要维护。交通信号灯式颜色预警确保您不会错过任何维护任务,但也不会过于频繁地进行维护。

ICP Go 是一款用于移动设备的基于浏览器的可选用户界面,能够简化常规样品批次的设置和控制,非常适合来回奔走的 ICP-MS 操作人员。

针对特定方法的分析仪套装包含 ICP-MS 硬件、软件、消耗品、专业服务和文档,确保您能在数周内开始运行样品,无需耗费数月时间进行法规方法开发、优化、验证和文档编制。

工作原理

如何获得高基质样品的准确结果

高基质样品会引起信号漂移并抑制等离子体,导致结果不准确,需要重复分析。7850 的超高基质进样系统使用氩气流稀释样品。无需耗时且容易出错的手动稀释即可对基质中 TDS 高达 25% 的样品进行分析。

同时,7850 的氦气碰撞池和半质量校正可自动消除多原子和双电荷离子干扰。这些功能不仅能简化方法开发,还能避免导致测量失败的常见问题。

利用 IntelliQuant 深入了解样品

特殊的样品基质可能会造成意想不到的问题。了解样品组成可以避免许多问题以及成本高昂的样品重复测量。IntelliQuant 软件功能使用全扫描质谱图对每个样品进行全面成分分析。结果以热图的形式显示,使您可以快速识别意外或异常高水平的元素以及样品前处理错误。此信息有助于确认稀释倍数和校准范围,并识别可能对内标元素造成影响的基质效应。

在适当的时机进行适当的维护

维护不足会影响仪器性能,导致计划外停机,浪费宝贵的时间。但过于频繁地维护也会浪费时间,增加消耗品成本,并且不会带来任何实际效益。早期维护反馈使用传感器和计数器,根据仪器使用情况确定何时需要维护。交通信号灯式颜色预警确保您不会错过任何维护任务,但也不会过于频繁地进行维护。得到理想维护的 ICP-MS 可提供更出色的性能,为实验室节省时间和资金。


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